【定員に達したため、予約を終了いたしました。
　　　　　　たくさんのご参加お申し込みをいただき誠にありがとうございます。】


日本信頼性学会関西支部　2019年度信頼性フォーラムを開催いたします．会員・非会員を問わず，より多くの方々にご参加いただきますようお願いいたします．

今年度は「寿命予測のための信頼性技術」をテーマに，3名の方々から講演いただきます．講演では，従来の加速試験に対してその劣化進行プロセスを機械学習で解析することにより故障診断や寿命予測につながることを示していただくほか，自動車用電子部品の目標品質の考え方と，それを満足する信頼性を有するための検証試験計画，ならびにその試験結果の品質保証への活用について紹介します．後半は知見豊富なパネラーと会場参加の皆さんとの討議の場としてパネルディスカッションを予定しており，テーマをより深堀し，様々な意見や情報に触れることのできる機会となっています．会員・非会員を問わず，より多くの方々にご参加いただきますようお願いいたします．

（日　　時）　2019年11月28日（木）　10:00～12:30

（会　　場）　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階（1102）
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟 大阪事務所　研修室　

（プログラム）
　10:05～11:20　研究発表（各自 発表 15分，質疑応答 10分）
　　　① 加速試験の考え方と試験事例　青木　雄一 氏（エスペック株式会社）
　　　② 劣化進行プロセス解析における機械学習の応用　貝瀬　徹 氏（兵庫県立大学大学院）
　　　③ 自動車用電子部品の品質保証と信頼性試験　松岡 敏成 氏（三菱電機株式会社）

　11:20～12:25　パネル討論　「寿命予測のための信頼性技術」
　　　コーディネータ：貝瀬 徹 氏（兵庫県立大学大学院）
　　　パネラー　　　：斎藤 彰 氏 (株式会社村田製作所)
　　　　　　　　　　　松岡 敏成 氏（三菱電機株式会社）　　　
　　　　　　　　　　　青木 雄一 氏（エスペック株式会社）

（参 加 費）　信頼性学会，電子情報通信学会の個人会員　：無料（発表予稿集含む）
　　　　　　　上記会員以外の方々　　　　　　　　　　　：無料（発表予稿集1,000円）
　　　　　　　※一般の方につきましては，発表予稿集代は別途必要（1,000円）です．

（申込方法）　下記，申込フォームからご予約下さい．
　　　　　　　※ 電子情報通信学会員の方は，備考欄にその旨ご記入ください．

（問合せ先）　日本信頼性学会関西支部 事務局（担当：山田）
　　　　　　　〒530-0003　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟 大阪事務所 内
　　　　　　　Tel:06-6341-4627　Fax:06-6341-4615　　E-mail: ht-yamada@juse.or.jp

（追　　記）
　同日午後13:45から，大阪中央電気倶楽部におきまして，当支部共催の電子情報通信学会信頼性研究会（テーマ：半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般）が開催されますので，併せてご参加いただけましたら幸いです．
発表内容，報文集価格は下記URLをご確認ください．
http://www.ieice.org/~r/