【【【　ご参加お申込みは締切ました　】】】


日本信頼性学会関西支部・講演会を開催いたします．
皆様の多数のご参加をお待ちしております．

日　時：　2021年6月23日（水）　13:30～16:30

会　場：　オンライン開催のため，会場はご用意しておりません
　　　　　（Microsoft Teamsを使用予定）

講　師：　株式会社村田製作所シニアスペシャリスト
　　　　　　　　　日本信頼性学会評議員　斎藤　彰氏

題　目：　「湿度は如何にして劣化を促進するか」
　　　　　　　～電子部品の腐食と強度低下～

内　容：　斎藤彰さんは、村田製作所の故障解析の第一人者であり、MLCCだけでなく実装や腐食やウィスカに関しても幅広い知識を有されています。この講演会では湿度に着目し、幅広い観点から故障の影響を下記プログラムに従いご講演頂きます。貴重なご経験を紹介いただきますので、開発設計から品質保証に関わる方まで広くお薦めできる内容となっています。

1．電子機器が受ける化学的ストレス（概要）
2．結露（腐食を加速する因子）
3．ECM（エレクトロケミカルマイグレーション）
4．はんだフラックスの活性剤の挙動と影響
5．Zn含有はんだによる腐食
6．Au/Al接合部腐食（パープルプレイグ）
7．SnOウィスカ（新種）
8．H2S腐食
9．耐湿試験の加速性
10．応力腐食割れ

参加費：　　会員・賛助会員及び学生：無料 　非会員：2，000円
　　　　　　<注意＞ただし賛助会員は１口に付き５名までが無料です．

申　込：　　下部の申込フォームからご予約下さい．
　　　　　　※「オンライン参加」となります.
　　　　　　※一般参加の方は，参加費として2,000円を下記へお振込みいただきます．
　　　　　　　当日不参加であっても，ご返金はいたしません．
　　　　　　（ゆうちょ銀行　口座名義：日本信頼性学会　口座番号：00100-5-56807）

申込締切：　2021年6月16日（水）

（その他注意事項）
講演中におけるスライド，映像等の撮影・録画，および講演内容の録音，ならびに配布レジメの無断複製を固く禁じます．

問合せ先：　日本信頼性学会・関西支部　事務局（担当：陣出）
　　　　　　〒530-0003　　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　(一財)日本科学技術連盟　大阪事務所内
　　　　　　TEL：06-6341-4627／FAX：06-6341-4615
　　　　　　E-mail: m-jinde@juse.or.jp