日本信頼性学会関西支部2014年度フォーラムを開催いたします。会場へ参加してくださった皆様からのご質問，ご意見などもいただきながら，活発な議論の場となることを願っておりますので，会員・非会員を問わず，より多くの方々のご参加をいただけますよう，よろしくお願いいたします。

　日本信頼性学会 信頼性試験研究会 が発足されて，まる15年が経過しようとしています。

　「数と時間の壁への挑戦」をメインテーマに掲げて，信頼性試験の効率向上と試験効果の拡大を目指して，取り組んで参りました。その間，「電子部品の信頼性試験ガイドライン」（2009年）として，品質保証のために適用される信頼性試験条件の最適化手順について，研究報告をまとめさせていただいています。最近の取組は，さらなる改善を目指して，完全に故障に至る前の予兆情報を取り込んだ寿命予測や，そのモデル化（印加されるストレスと信頼度などの信頼性特性値との関係を表す関数の選択）の手順なども検討しています。

　この度，この研究会の代表者など関西を中心に活躍される信頼性技術者が集まり，現状の信頼性評価が抱えている問題や課題を抽出し，それらを克服するためのこれからの信頼性評価の進め方や適用効果について提案いたします。


（日　　時）　2014年11月20日（木）　10:00～12:00

（会　　場）　大阪中央電気倶楽部　2階　215会議室
　　　　　　　http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html

（参 加 費）　無料

（申込方法）　日本信頼性学会ホームページの申込フォームからご予約いただくか，
　　　　　　　下記の問合せ先までご連絡ください。

（問合せ先）　日本信頼性学会関西支部 事務局（担当：植村）
　　　　　　　〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25 中央電気倶楽部４階
　　　　　　　（一財）日本科学技術連盟 大阪事務所 内
　　　　　　　Tel:06-6341-4627　Fax:06-6341-4615
　　　　　　　E-mail: reaj-kansai@juse.or.jp
（プログラム）
　　　　　　　10:00～10:05　開会の挨拶

　　　　　　　10:05～11:25　研究発表（各自 20分）
　　　
　　　　　　　　　① 信頼性評価の課題（加速性、ばらつきなど）
　　　　　　　　　　　和田哲明（プライムアースEVエナジー㈱）
　　　　　　　　　② わかりやすい半導体の信頼性あれこれ
　　　　　　　　　　　亀川幸雄（㈱リコー）
　　　　　　　　　③ 破壊前解析の検討（源流設計へのフィードバックと未然防止に向けて）
　　　　　　　　　　　遠藤幸一（㈱東芝　ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀ＆ｽﾄﾚｰｼﾞ社）
　　　　　　　　　④ 前兆現象による故障の発生予測と未然防止
　　　　　　　　　　　青木雄一（エスペック㈱）

　　　　　　　11:25～11:55　パネル討論　「これからの信頼性評価の進め方」
　　　　　　　　　　コーディネータ：貝瀬 徹(兵庫県立大学大学院教授，本学会関西支部長）
　　　　　　　　　　パネラー　　　：研究発表者４名

　　　　　　　11:55～12:00　閉会の挨拶


なお，同日の午後，同会場におきまして，当支部共催の電子情報通信学会信頼性研究会
（テーマ：半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般）が開催されます。
聴講のための事前申し込等は不要ですので，併せてご参加いただけましたら幸いです。

受付開始　13:15
開　　会　13:45
参 加 費　無料
※ ただし，報文集は会場での別途有償配布となります。
過去の配布価格は概ね\2000（同学会員は\1500）程度です。
　　　　　研究会の発表内容詳細は，下記URLをご確認ください。
　　　　　http://www.ieice.org/~r/