日本信頼性学会関西支部の講演会を開催します．会員の皆様は勿論，会員外の方々もお誘い合わせの上，是非多数ご参加くださいますよう，ご案内申し上げます．

（日　　時）　2015年7月31日（金）　14:00～17:00

（会　　場）　中央電気倶楽部　5階　513号室 （大阪市北区堂島浜2-1-25）

（講 演 者）　山口　浩二 氏
　　　　　　　　　（富士電機株式会社　電子デバイス事業本部　生産統括部　品質保証部長）

（題　　目）　「パワー半導体の信頼性試験動向とJEITA規格国際標準化の取り組み」

（内　　容）　　自動車技術の分野では，電気自動車やハイブリッド自動車など環境対応への変革が進んでいます．さらに，高度な認識・知能処理によるパワー制御も実用化されています．これらの技術では，パワー半導体が重要な役目を担っています．したがって，車載用のパワー半導体の故障は車両停止や最悪人命を危険にさらす恐れがあることから，一般民生用途に比べていっそうの高品質・高信頼性が求められます．今回，パワー半導体特有の故障メカニズムや信頼性試験技術について最新動向を交えながら解説いただきます．JEITAではパワー半導体の信頼性試験規格について，JEITA ED-4701信頼性試験規格に追加する形で標準化されました．現在，国際標準化に向けて車載用個別半導体認定ガイドラインの策定が行われており，今回の講演ではその最新動向についても解説していただきます．

（参 加 費）　会員及び学生：無料 　非会員：2,000円

（申込方法）　下記、申込フォームからご予約ください．

（参加人数）　50名とします．定員になり次第締め切ります．

（申込締切）　2015年7月28日（火）

（問合せ先）　日本信頼性学会 関西支部 事務局 ［植村］
　　　　　　　〒530-0003　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟　大阪事務所 内
　　　　　　　Tel：06-6341-4627／Fax：06-6341-4615
　　　　　　　E-mail：reaj-kansai@juse.or.jp