日本信頼性学会信頼性試験研究会は発足15周年を迎えましたが，これまでの活動を振り返るとともに，これからの信頼性試験における課題とその解決策について，発表と討論の場を設けさせていただきます．

　信頼性試験に直接関わっておられる方は勿論のこと，その試験結果を活かした開発，設計，製造，品質保証に携わっておられる方々にも足をお運びいただき，会場からの発言等も含め参加者全員で協議する活発な議論となることを願っております．
　信頼性学会の会員・非会員を問わず，より多くの方々のご参加をいただけますよう，よろしくお願いいたします．

（日　　時）　2015年11月19日（木）　10:00～12:30
（会　　場）　大阪中央電気倶楽部　5階　513会議室
　　　　　　　http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html
（参 加 費）　無料
　　　　　　　※ ただし，研究発表予稿集を希望されます方は，下記の通り，
　　　　　　　　 有償配布となりますことご了承願います．
　　　　　　　　　 　信頼性学会の個人会員　　　：無料
　　　　　　　　　 　電子情報通信学会の個人会員：無料
　　　　　　　　　 　上記会員以外の方々　　　　：\1000
（申込方法）　下記，申込フォームからご予約下さい．
　　　　　　　※ 電子情報通信学会員の方は，備考欄にその旨ご記入ください．
（問合せ先）　日本信頼性学会関西支部 事務局（担当：植村）
　　　　　　　〒530-0003　　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟 大阪事務所 内
　　　　　　　Tel:06-6341-4627　Fax:06-6341-4615
　　　　　　　E-mail: reaj-kansai@juse.or.jp
（プログラム）
10:00～10:05　開会の挨拶

10:05～11:20　研究発表（各自 発表 20分，質疑応答 5分）
① 信頼性試験研究会 15年の歩み
　　松岡 敏成（三菱電機株式会社）
　　　（要旨）2000年に発足した信頼性試験研究会の活動成果を振り返り，信頼性試験の
　　　　効率と効果の改善について提案してきた内容をまとめて紹介します．
　　　　（Fuzzy推論の適用，信頼性試験計画，品質工学との融合，確率モデル）

② HASTとAir-HASTを用いた耐湿加速評価　～Au-Al合金層のBr腐食を事例に～
　　西原 麻友子（株式会社　村田製作所）
　　　（要旨）電子部品の信頼性評価の中で，耐湿劣化評価は非常に重要な位置を占めているが，
　　　　その試験には時間がかかり，耐湿加速試験技術が求められている．そこで今回，
　　　　ワイヤーボンディングの接合部Au-Al合金層のBrによる腐食を事例に，空気の
　　　　存在するHAST(PCT)であるAir-HASTを用いて短時間評価方法を検討した結果を
　　　　報告する．

③ 電子機器の寿命末期時の安全性評価
　　本山 晃（M.A信頼性技術オフィス 代表）
　　　（要旨）電子機器は，多種多様の電子部品・機構部品がプリント基板にはんだで接続
　　　　されて構成される場合が多い．その電子機器が目標寿命において安全かそう
　　　　でないかを判断するためには，機器が寿命末期状態で安全性を確保している
　　　　ことを見極める必要がある．そのために，電子機器の寿命末期状態を定義し，
　　　　その状態で機器の安全性を判定することが重要となる．ここでは，そのため
　　　　に必要な電子機器の寿命予測ステップを示した後，事例を用いて寿命予測を
　　　　行い寿命末期のサンプル作成の仕方を解説する．更に寿命末期の電子機器の
　　　　安全性評価について述べる．

11:20～12:25　パネル討論　「これからの信頼性評価の進め方」
　　　コーディネータ：貝瀬 徹　日本信頼性学会関西支部長（兵庫県立大学大学院教授）
　　　パネラー　　　：研究発表者3名
　　　質疑等　　　　：会場の参加者

12:25～12:30　閉会の挨拶

　なお，同日の午後，同会場におきまして，当支部共催の電子情報通信学会信頼性研究会
（テーマ：半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般）が開催されます．
　聴講のための事前申し込等は不要ですので，併せてご参加いただけましたら幸いです．

　　　　　受付開始　13:30
　　　　　開　　会　14:00
　　　　　参 加 費　無料
＊　ただし，報文集は会場での別途有償配布となります．過去の配布価格は概ね\2000（電子情報通信学会，信頼性学会員は\1500）程度です．発表内容詳細は，下記URLをご確認ください．
http://www.ieice.org/~r/