日本信頼性学会関西支部2016年度フォーラムを開催いたします。会員・非会員を問わず、より多くの方々にご参加いただけますようお願いいたします。

　日本信頼性学会・信頼性試験研究会では，研究テーマとして「効率的かつ効果的な信頼性試験の確立」を掲げ，「数と時間の壁への挑戦」を合言葉に，活動を継続してきました．その成果として，信頼性試験計画の立て方をまとめた，信頼性試験ガイドラインを発行しています．その中で，信頼性試験で必要になる試料数と試験時間の調整の仕方を解説していますが，規格に従う試験時間を，必ず短縮できると言う内容にはなっておらず，むしろ現状よりも長い試験時間が必要になる可能性も示唆しました．そこで，故障前の現象から故障までの時間を予測することで，試験時間が短縮できるのではないかと考え，

　① 故障と故障の予兆現象の整理
　② 故障の予兆現象からの寿命予測

について，さらなる検討を重ねています．

　この活動を進めるにあたって，故障につながる予兆現象から，故障メカニズムを解析する技術の実現が，課題として挙がってきました．そこで今回のフォーラムでは，トップ事象となる故障が顕在化する前に，内在する劣化現象をとらえる試験，観察，分析技術にスポットをあてます．それらの結果を適用して，故障メカニズムを想定した寿命予測へと結びつくヒントが得られることを期待しています．

　最近の研究成果を交えながら，解析技術の現状と課題について，研究者の皆様から発表いただくとともに，会場の皆様との討論を交えながら，今後の信頼性試験・信頼性評価の方向性について深掘りさせていきたいと思います．参加者全員で協議する活発な議論の場となることを願っておりますので，信頼性学会の会員・非会員を問わず，より多くの方々にご参加いただけますよう，よろしくお願いいたします．

（日　　時）　2016年11月17日（木）　10:00～12:30
（会　　場）　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟 大阪事務所内　1102研修室
（参 加 費）　無料
　　　　　　　※ ただし，発表予稿集を希望されます方は，下記の通り，
　　　　　　　　 有償配布となりますこと，ご了承願います．
　　　　　　　　　 　信頼性学会の個人会員　　　：無料
　　　　　　　　　 　電子情報通信学会の個人会員：無料
　　　　　　　　　 　上記会員以外の方々　　　　：1000円
（申込方法）　下記，申込フォームからご予約下さい．
　　　　　　　※ 電子情報通信学会員の方は，備考欄にその旨ご記入ください．
（問合せ先）　日本信頼性学会関西支部 事務局（担当：植村）
　　　　　　　〒530-0003　　大阪市北区堂島2-4-27　新藤田ビル11階
　　　　　　　一般財団法人 日本科学技術連盟 大阪事務所 内
　　　　　　　Tel:06-6341-4627　Fax:06-6341-4615
　　　　　　　E-mail: reaj-kansai@juse.or.jp

（プログラム）
10:00～10:05　開会の挨拶
10:05～11:20　研究発表（各自 発表 15分，質疑応答 10分）

　　　　① はんだの亀裂進展に観る接合寿命
　　　　　　　　　　　　青木 雄一氏（エスペック㈱）
　　　　② 微小発熱分析に基づく故障前解析手法の提案
　　　　　　　　　　　　遠藤 幸一氏（㈱東芝　ｽﾄﾚｰｼﾞ＆ﾃﾞﾊﾞｲｽｿﾘｭｰｼｮﾝ社）
　　　　③ 特性常時モニタリングを用いた電子部品の高加速寿命試験
　　　　　　　　　　　　芝野 照夫氏（三菱電機㈱　福山製作所）

11:20～12:25　パネル討論　「データと現象に基づく解析技術の課題」
　　　コーディネータ：貝瀬 徹氏　日本信頼性学会関西支部長
　　　パネラー　　　：研究発表者３名

12:25～12:30　閉会の挨拶


（追　　記）
　同日の午後，中央電気倶楽部におきまして，当支部共催の電子情報通信学会信頼性研究会（テーマ：半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般）が開催されます．聴講のための事前申し込は不要ですので，併せてご参加いただけましたら幸いです．

受付開始　13:30
開　　会　14:00
参 加 費　無料
※ ただし，報文集は会場での別途有償配布となります．過去の配布価格は概ね2000円（電子情報通信学会，信頼性学会員は1500円）程度です．発表内容詳細は，下記URLをご確認ください．
http://www.ieice.org/~r/