故障物性研究会　主査　佐藤　博之

　本研究会は、1995年に発足以来、多岐に渡る信頼性問題に対して、故障物性の切口から、故障メカニズムや故障解析技術に関する情報共有や議論を行い、会員の技術力向上を図ると共に、製品の信頼性向上の実現を通して、社会に貢献することを目指して活動しています。

　原則年6回定例会を開き、研究会内外の講師による講演やパネルディスカッションを行っています。発表者、聴講者双方にwin-winの関係が構築できるよう、会員のニーズに応じたテーマを選定しています。

＜好評だったテーマの例＞
・樹脂材料やゴム材料における品質問題
・X線トモグラフィーの原理
・HALT活用事例
・半導体故障解析の現状
・半導体の国際規格動向（JEITA規格）
・電子機器への環境リスク：腐食の影響
・リチウムイオン電池の構造と故障事例

　2016年度から本学会主催の信頼性フォーラムを毎年企画開催（2019年度は新型コロナの影響で中止）している他、春季・秋季シンポジウム、日科技連主催の信頼性・保全性・安全性シンポジウムへの参加など、学会員以外への情報発信にも取り組んでいます。

　また、共通の関心テーマを題材にした共同調査や研究を分科会として定例会以外で集まって議論し、その成果を学会シンポジウムなどで情報発信を行っています。最近では、積層セラミックコンデンサの故障事例の調査を通じて良品解析手法についての取り組みを行いました。


（連絡先）日本信頼性学会　事務局　　reaj@juse.or.jp
　　　　　故障物性研究会　主　査　　佐藤　博之　　hiroyuki.sato@advantest.com
　　　　　　　　　　　　　副主査　　西野　裕暁　　hiroaki.nishino@daikin.co.jp　


【2025.3.12更新】