日本信頼性学会2021年度第2回信頼性フォーラム
「電子部品、電子機器の故障解析とは・・・。原点に立ち返り考える」
2022年3月10日(木)10:25~17:15 Microsoft Teamsによるオンライン開催■ 【資 料】
「電子部品・電子機器の故障解析概要」
味岡恒夫氏(故障物性ソリューション)
「SEM/EDSで出来る故障解析~依頼分析の前に~」
斎藤 彰氏(村田製作所)
「光学的手法を用いた応力・結晶欠陥評価法と電子部品、半導体デバイスへお適用」
杉江隆一氏(東レリサーチ)
「透過X線/X線CTと超音波探傷の違いについて」
中川 渉氏(日本バーンズ)
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
高森 圭氏(沖エンジニアリング)
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
池本 裕氏(クオルテック)
「解析受託サービス各社からのプレゼン」
廣岡知之氏(楠本化成ETAC)