日本信頼性学会2016年度信頼性フォーラムを開催いたします．
「製品事故を繰り返さないために」～電子部品・電子機器の品質リスクを考える～
奮ってご参加ください．
安心･安全社会を実現するため，あらゆる産業分野で，故障・事故の未然防止を目指した製品開発が行われています．その実現に向け，これまで培ってきた技術や経験・知見の伝承を含めた信頼性・安全性に係わる技術者の育成が重要になっています．このような課題に対し，本信頼性フォーラムでは，特に重要なテーマである故障解析技術と事故に繋がる故障／信頼性に関連する重要な問題を取り上げ，講演および議論を行います．
（日 時）2017年3月9日(木) １部10:30～12:00／2部13:00~17:00
（場 所）日本科学技術連盟 東高円寺ビル講堂
東京都杉並区高円寺南1-2-1Tel：03-5378-9853
http://www.juse.or.jp/upload/files/map_kouenji_160406a.pdf
（主 催）日本信頼性学会 ＜担 当＞日本信頼性学会 故障物性研究会
（後 援）日本科学技術連盟
（協 賛）経営工学関連学会協議会（ＦＭＥＳ）
日本オペレーションズ・リサーチ学会
日本経営工学会
経営情報学会
研究・イノベーション学会
日本設備管理学会
日本品質管理学会
プロジェクトマネジメント学会
（順不同）
（参加費）当日受付にて徴収します（カラー資料有）
会員・協賛学会会員：7,000円，非会員：11,000円 ，学生：4,000円
（2部のみ参加：各2,000円引）
早期申込割引：各1,000円引（2月20日迄）
懇親会：一律2,000円（17:10～19:00）
（参加申込）下記申込フォームよりお申込ください．
（プログラム）
第1部 初級・中級者向け故障解析の基礎講座 味岡 恒夫 （OKIエンジニアリング）
主に故障解析の初・中級者を対象に基礎的な解説を行う． 故障解析の流れ，電子部品の故障モード・故障メカニズム，故障箇所特定法，物理解析法を事例とともにわかりやすく説明する．
第2部 製品事故の深層と今後の品質リスクの回避に向けて
１．電気製品に関わる製品事故原因究明技術 神山 敦(NITE)
独立行政法人製品評価技術基盤機構(NITE)では，事故情報を収集し，公正・中立な立場で製品事故について調査解析し，公表を行っている．製品事故情報の約半数を占める家庭用電気製品の事故原因究明調査についての手順，手法，ツール，解析事例について紹介する．
２．リチウムイオン電池の安全性 鳶島 真一（群馬大学）
リチウムイオン電池を搭載した製品において，異常発熱や焼損などの事故が，現在も市場で起こっている．事故の原因として製造不良，予想外の過酷な使われ方，電池を搭載した製品としての設計不良が報告されている．リチウムイオン電池とはどのようなものか，構造，材料，充放電制御／保護系について解説するとともに，近年頻発しているリチウムイオン電池を搭載した製品の事故原因に迫る．
３．電解コンデンサの信頼性問題 牧野 芳樹（ルビコン）
電解コンデンサでは，液漏れによる基板障害，腐食断線，水和反応による短寿命という事故が相次いだ．これらは，電解液の変更，信頼性確認不足によるものであり，今後も同様の事故が起きるリスクがある．また，日本メーカを模した粗悪品問題にも言及する．
４． L18直交表を用いたIGBTの部品選定～その価値とリスク～ 斎藤 彰（村田製作所）
150℃を越えるパワー半導体のジャンクション温度上昇に際し，温度加速試験が困難になってきている．コストと時間を最小限に抑え，かつ，事故の未然防止のため，品質工学を活用した部品選定を実施した．その価値とリスクについて考察する．
パネルディスカッション 「製品事故の未然防止のためにすべきこと」
コーディネータ：遠西 繁治 ビアメカニクス株式会社
パネラー ：神山 敦 独立行政法人製品評価技術基盤機構
鳶島 真一 群馬大学 理工学部 環境創生理工学科 教授
牧野 芳樹 ルビコン株式会社
斎藤 彰 株式会社村田製作所
佐藤 博之 株式会社アドバンテスト
土屋 英晴 故障物性研究会 主査
（株式会社クオルテック／元 株式会社デンソー）
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（問合先） 日本信頼性学会事務局
杉並区高円寺南1-2-1（一財）日本科学技術連盟内
TEL03-5378-9853 FAX03-5378-9842 E-mail: reaj@juse.or.jp
