日本信頼性学会関西支部の見学会を開催します．会員の皆様は勿論，会員外の方々もお誘い合わせの上，是非多数ご参加くださいますよう，ご案内申し上げます．

（日 　時）　2012年9月14日（金）　14：00～17：00

（会　　場）　中央電気倶楽部　2階　207号室　(大阪市北区堂島浜2-1-25)

（講 演 者）　ＪＦＥテクノリサーチ株式会社　電池・材料解析評価センター長
　　　　　　　　島 内 　優 氏

（題 目）　｢電子部品および実装部品における最新の不具合解析技術と事例｣

（内　　容）　　電子部品や機構部品において、接続や接点不良による不具合や障害が市場で起きる中で、信頼性技術者はその不具合解析や対策について適切な対処が求められています。今回の講演は、部品や材料の解析に長く関わっておられ、種々の不具合事例に対して豊富な情報をお持ちの講師に、関西でのご講演をお願いすることに致しました。
　今回は、以下のように最新の不具合解析技術と解析事例を主な題材としてご講演いただきます。
１) 最新の不具合解析技術
・走査電子顕微鏡の先端的解析方法
・透過電子顕微鏡による微細構造解析の意味
・極表面分析手法による材料表面状態の正確な把握の必要性
2）IC製品の市場故障解析事例
3) コネクタ、接点表面の不具合解析事例
4) はんだ実装部における不具合解析事例（鉛フリーはんだの不具合解析を含む）
　　　　　

（参 加 費）　会員及び学生：無料　　非会員：2,000円

（申込方法）　日本信頼性学会のホームページ（http://www.reaj.jp/）からご予約下さい．

（申込締切）　2012年9月12日（水）

＊不明点があれば、下記に連絡してください．
日本信頼性学会 関西支部 事務局 ［植村］
〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25 中央電気倶楽部4階
一般財団法人日本科学技術連盟 大阪事務所 内
Tel：06-6341-4627　Fax：06-6341-4615／E-mail：reaj-kansai@juse.or.jp