日本信頼性学会2012年度第2回フォーラムを開催します．今回のテーマは「安全性と信頼性の接合」です．討論の時間もございますので，奮ってご参加ください．

　信頼性と安全性は異なる概念ですが，両者は密接な関係をもっています．その関係は，信頼性が高くても安全性が低い場合，信頼性が低くても安全性が高い場合，さらに両者ともに高いあるいは低い場合が考えられます．現代の複雑化した社会要式のもとにおける製品・システムにおいては，信頼性及び安全性が共に満足できるように求められています．そこで，信頼性が安全性にどのように影響するか，リスク評価技法，信頼性技術者と安全性技術者との思考の相違と接点，故障解析（信頼性物理）と安全性，そして電気製品の安全性を支える機構部の役割についてのそれぞれの観点から，問題を提起します．これに対して信頼性・安全性確保に向けた議論を行い，新たな情報発信を試みます．

　討論の時間もございますので，周りの方にお声かけいただき奮っての参加をお願いいたします．

（日　　時）　2013年4月26日（金）　13:00～17:30

（会　　場）　一般財団法人日本科学技術連盟 千駄ヶ谷本部ビル
　　　　　　　〒151-0051　東京都渋谷区千駄ヶ谷5-10-11
　　　　　　　http://www.juse.or.jp/about/location_map1.html

（フォーラム参加費）正会員・賛助会員 2,000円，　
　　　　　　　非会員　3,000円，学生 無料

（申込方法）　下部、予約申込フォームからご予約ください．

（お問合せ）　日本信頼性学会事務局
　　　　　　　〒166-0003　東京都杉並区高円寺南1-2-1一般財団法人日本科学技術連盟 内
　　　　　　　電話03-5378-9853　FAX03-5378-9842　E-mail：reaj@juse.or.jp

（プログラム）13:00～13:05　開会挨拶　日本信頼性学会 前会長（佐藤 吉信氏）
　　　　　　　13:05～13:50　「安全性と信頼性との接合－リスク評価技法－」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　佐藤 吉信氏（株式会社日本環境認証機構）
　　　　　　　13:50～14:35　「安全性と信頼性思考の接合について
　　　　　　　　　　　　　－解析分野における，安全性技術者と信頼性技術者－（仮）」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　門田　靖氏（株式会社リコー）
　　　　　　　14:35～14:50　休憩
　　　　　　　14:50～15:35　「故障解析から安全性を見る－電気製品の経年劣化－（仮）」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　井原 惇行氏（楠本化成株式会社）
　　　　　　　15:35～16:20　「製品安全性に関する境界領域の解決方法」
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　渡部 利範氏（テクノクオリティー）
　　　　　　　16:20～16:35　休憩
　　　　　　　16:35～17:30　総合討論　講演者各位

※上記の講演タイトルは変更になることもございます．